一、什么是失效分析?
业务范围
BUSINESS SCOPE
失效分析（FA）是对已失效器件进行的一种事后检查。根据需要，采用电测试以及各种先进的物理、金相和化学分析技术，并结合元器件失效前后的具体情况及有关技术文件进行分析，以验证所报告的失效，确定元器件的失效模式、失效机理和造成失效的原因。
二、失效分析的目的
通过失效分析可以发现失效器件的固有质量问题，也有可能发现元器件因不按规定条件使用而失效的使用质量问题，通过向有关方面反馈，促使责任方采取纠正措施，以便消除所报告的失效模式或机理产生的原因，防止其再次出现，对提高元器件的固有质量或使用质量都起到十分重要的作用。
三、失效分析的试验项目
基本项目
1、外部检查
2、电参数测试
3、非功能测试
4、X射线照相
5、PIND
6、密封性检查
7、声学扫描显微镜分析(SAM）
8、内部检查
9、剖面金相分析
10、键合强度测试
11、剪切强度测试
12、扫描电子显微镜分析(SEM）
业务联系方式
西安西谷微电子有限责任公司（西安微电子检测中心）
电话：029-68590621转610/611 15719290693（市场移动）
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